Advances in X-Ray Analysis: Volume 32
John V. Gilfrich (auth.), Charles S. Barrett, John V. Gilfrich, Ron Jenkins, Ting C. Huang, Paul K. Predecki (eds.)Կատեգորիաներ:
Տարի:
1989
Հրատարակչություն:
Springer US
Լեզու:
english
Էջեր:
665
ISBN 10:
1475791127
ISBN 13:
9781475791129
Ֆայլ:
PDF, 25.48 MB
IPFS:
,
english, 1989